覆层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。

可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

本仪器符合以下标准：GB/T4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法JB/T8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG889─95《磁阻法测厚仪》。

覆层测厚仪优点：

测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍；

精度高：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上*能达到A级的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高；

稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；

功能、数据、操作、显示全部是中文。

覆层测厚仪功能特点：

采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。

覆层测厚仪基本原理：

本仪器采用了磁性测厚法，可无损伤地测量磁性金属基体上的非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、非奥氏体不锈钢基体上的铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆镀层）。

基本工作原理是：当测头与覆盖层接触时。测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆层的厚度。